Komponenttestare

kapacitansstandardram för 1–4 AH 11A-standarder, valbara värden 0,1–115 pF, stabilitet

Fused-silica kapacitansstandard med användarvalt värde upp till 115 pF, mycket hög långtidsstabilitet, extremt låg förlust och NIST-spårbar kalibrering.

1 kHz automatisk mätning, noggrannhet 5 ppm, upplösning 0,5 aF, extremt låg förlust ned till 1,5×10⁻⁸ tan δ, treterminal-BNC samt GPIB/RS-232.

50 Hz–20 kHz mätområde, extremt låg förlust ned till 1,5×10⁻⁸ tan δ, snabba mätningar från 30 ms, treterminal-BNC, autoranging samt GPIB/seriellt gränssnitt.

0,01 % noggrannhet, 0,1 μΩ–100 MΩ område, låg-effektläge, 4-trådskontakter, upp till 20 ms mätning, binsortering och USB/RS232/LAN-gränssnitt.

0,1 % noggrannhet, L/C/R/Z-mätning upp till 100 kHz, 4-terminalsläge, auto-ranging, toleranssortering, Min/Max/Avg, USB-loggning och SCPI-stöd.

0,05 % impedansnoggrannhet, L/C/R/Z-mätning 20 Hz–300 kHz, valbara testnivåer, svep upp till 300 punkter, facksortering och USB/GPIB/LAN-styrning.

0,05 % noggrannhet, 20 Hz–500 kHz testfrekvens, AC 5 mV–2 V, DC-förspänning ±5 V, 13 ms mätning, ALC, BIN-sortering, listsvep och USB/RS232/LAN.

0,05 % noggrannhet, 20 Hz–1 MHz testfrekvens, AC 5 mV–2 V, DC-förspänning ±5 V, 13 ms mätning, ALC, BIN-sortering, listsvep och USB/RS232/LAN/GPIB.

0,1 % noggrannhet, testfrekvenser 60 Hz–30 MHz, 7 ms mätning, tre utgångsimpedanser samt stöd för sortering, nollställning och RS-232/USB-gränssnitt.

0,3 % noggrannhet, 1–650/800 V DC källa, 0,001 µA–20 mA läckströmstest, IR-mätning, diode/Zener-test, överspänningsprovning och RS-232 med valbar GPIB.

Testar läckström och isolationsresistans upp till 1 kV DC med PD-detektering, V/I-vågformsloggning, automatisk testsekvens och USB/Ethernet-gränssnitt.

0,001 mΩ–1,9999 MΩ område, DC-/puls-/torrkretstest, 0,05 % noggrannhet, temperaturkorrigering, 4-kanalig R-scanning och RS232-gränssnitt.

Upp till 6 kV puls, 200 MHz sampling, åtta bedömningstyper, stöd för BDV-läge samt LAN/USB/RS232 och flerkanelstest upp till 25 celler.

0,05 % impedansnoggrannhet, 10 Hz–10 MHz testfrekvens, ±0,03° fasmätning, DC-förspänning upp till 40 V, avancerad analys, binning, loggning och RS232/USB/LAN.

1-kanaliga SMU-modeller med två- eller fyrkvadrantarkitektur, upp till 60 W source/sink-effekt, snabb load recovery < 30 µs och datainsamling upp till 500 kS/s.

0,2 % grundnoggrannhet, 10 kHz testfrekvens, 20 mätningar/s, 5-siffrig visning av L/C/R/Q eller D, binning, gränsvärden och RS-232 med valbar GPIB.

0,05 % grundnoggrannhet, 5-siffrig visning, testfrekvenser upp till 100 kHz, 20 mätningar/s, binning, gränsvärden och RS-232 med valbar GPIB.