SFT 2400 med integrerat kopplingsnätverk simulerar elektrisk snabb transient (EFT) enligt definitionen i IEC 61000-4-4 och EN 61000-4-4 standarder.
På grund av den mycket korta stigtiden på 5ns genererar de individuella pulserna ett bredbandigt RF-spektrum upp till 300 MHz.
Den enkla manövreringen sker via en kapacitiv färgpekskärm.
Alla parametrar visas tydligt utan kapslade menyer och kan ändras snabbt genom att trycka på och använda en digital roterande encoder.
De normativa testnivåerna 1, 2, 3 och 4 är förprogrammerade, ytterligare testsekvenser kan lagras via minnesfunktionen.
SFT 2400 erbjuder också en mängd specialfunktioner som "Real Burst", som simulerar det naturliga utseendet av burstpulsen eller "brus" som simulerar kontaktstuds.
Funktionerna "IFM" och "DFM" (ökande eller minskande frekvens) är viktiga verktyg för att undersöka resonans- eller mättnadseffekter i enheten som testas.
IEC / EN 6100-4-4
SFT 2400 med integrerat kopplingsnätverk simulerar elektrisk snabb transient (EFT) enligt definitionen i IEC 61000-4-4-standarderna.
På grund av mycket kort stigtid på 5ns genererar de individuella pulserna ett bredbandigt RF-spektrum uo till 300 MHz.
Den enkla manövreringen sker via en kapacitiv färgpekskärm.
Alla parametrar visas tydligt utan kapslade menyer och kan ändras snabbt genom att trycka på och använda en digital roterande encoder.
De normativa testnivåerna 1, 2, 3 och 4 är programmerade, ytterligare testsekvenser kan lagras via minnesfunktionen.
Prestandafunktioner:
Alla skurparametrar kan ändras under ett skurtest. Detta garanterar att det enkelt och kontinuerligt kan detekteras provets feltröskel. Ett avbrott av testet för en parameterändring vid skurgeneratorn är inte nödvändigt.
Den i praktiken uppträdande pulsskuren överensstämmer inte med standardens definition. Dess fysikaliska egenskaper avviker från standarddefinitionen. Generatorn SFT 2400 ger användaren en mängd olika specialfunktioner som "Real Burst", som simulerar det naturliga utseendet av Burst-pulsen eller "Noise" kan simuleras med kontaktstudsen.
För lokalisering av fel är det möjligt att koppla skurpulsen mycket exakt till en viss processtid för EUT. Burstpulsmikrosekunden utlöstes exakt med ett jitter på <25ns.
