Chroma 19501-K Partiell Urladdningstestare tillhandahåller AC Högspänningsprovning (Hi-Pot) för mätning av läckström och genomslag, samt PD-mätning för att kvantifiera laddningen (pC) från partiella urladdningar i den testade enheten (DUT). Testningen säkerställer produktens isoleringskvalitet och tillförlitlighet.
- Inbyggda funktioner för AC Hi-Pot test och PD-detektion
- Programmerbar AC Hi-Pot spänningsutgång: 0.1 kVac till 10 kVac
- Hög noggrannhet och upplösning på strömmätning: Upp till 0.01 uA till 300 uA
- PD-detekteringsområde: 1 pC till 2000 pC
- Inkluderar funktion för kontroll av högspänningskontakt (HVCC)
- Standardkompatibel: Uppfyller krav enligt IEC 60747-5-5, VDE 0884 och IEC 60270
- Separerad design för mät- och displayenhet för att minska störningar
19501-K är specifikt utformad för testning av högspänningshalvledarkomponenter och högisolerande material. Den använder smalbandig mätteknik och visar PD-resultaten i pC på skärmen. Den har inbyggda mätmetoder som uppfyller produktionskraven för till exempel optokopplare enligt IEC 60747-5-5.
Kontinuerlig partiell urladdning försämrar isolationsmaterial och kan leda till säkerhetsrisker. Därför kräver regleringar att PD-test utförs i produktion, med kravet att urladdningen ska vara mindre än 5 pC vid maximal isolationsspänning för optokopplare.
19501-K utgår från Chroma 19501-arkitekturen men är en integrerad enhet med fasta specifikationer (inklusive 10 kV kapacitet och specifik läckströmsmätning). Den skiljer sig från den modulära 19501 basplattformen, som kan kombineras med separata HV-moduler som A195005 (5 kV) eller A195004 (10 kV) för flexibel konfiguration.
